文章來源：中國航天科工集團公司 發(fā)布時間：2011-03-25
近日，中國航天科工成功試制測量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測器THGEM多孔膜板，該產(chǎn)品具有高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點，該產(chǎn)品的試制成功將為我國這類新型氣體探測器的研發(fā)躋身國際先進水平奠定基礎(chǔ)。
該氣體探測器研發(fā)項目是中國科學(xué)院研究生院和高能物理研究所合作于2008年開始的國家自然科學(xué)基金課題。這類探測器可應(yīng)用于高能物理核物理研究，X射線和同步輻射應(yīng)用、宇宙學(xué)空間研究、等離子體診斷、核安全防護方面的微劑量檢測與利用宇宙線多次散射檢測核材料、生物醫(yī)學(xué)成像與對紫外光區(qū)靈敏的日盲探測等方面。
此次成功試制的THGEM多孔膜板制作工藝在國際上屬于前沿技術(shù)，中國航天科工二院699廠為此進行了數(shù)十次技術(shù)攻關(guān)，并對研究生院和高能所提供的理論支持進行了工藝方案的不斷設(shè)計和改進，從而在較低工作電壓下獲得了高增益，無放電的高質(zhì)量信號。